Mura 测试方案

1. 液晶缺陷

1) Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不紧密导致灯管光直接透射出来。 2) Zure—错误对位，指液晶屏的滤光单元与TFT对位出现错误导致的缺陷 3) SIMI—基板上有污渍 4) Mura—是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，最简单的判断方法就是在暗室中切换 到黑色画面以及其它低灰阶画面，然后从各种不同的角度用力去看，随着各式各样的制 程瑕疵，液晶显示器就有各式各样的mura。 以上各种缺陷，Mura是最难以检测的，因为它是光学，色度学以及人类心理学的一个结合体。

2. Mura定义

mura本来是一个日本字, 随着日本的液晶显示器在世界各地发扬光大, 这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。mura是指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象。 最简单的判断方法就是, 在暗室中切换到黑色画面, 以及其他低灰阶画面. 然后从各种不同的角度用力去看, 随着各式各样的制程瑕疵, 液晶显示器就有各式各样的mura. 可能是横向条纹或四十五度角条纹, 可能是切得很直的方块, 可能是某个角落出现一块, 可能是花花的完全没有规则可言, 东一块西一块的痕迹. 《液晶显示器件 第2-2-4部分：手机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范》指出，云纹（Mura）应该在6%中性密度滤光镜遮盖后不可见，或对照标准样本。 然而，液晶面板的质量判定大部分是采用专业训练人员以人眼检测，隐含人类视觉限制、训练程度及主观认定等因素，容易产生不可靠的判定结果，成为生产者与消费者之间的争议，故厂商积极发展机器视觉的检测架构。

3. Mura测试与量化 SEMI针对Mura测试建立了一个标准。

定义：JND — Just Noticeable Difference • 公式： • Cjnd是mura 缺陷最小可觉察的对比度差异 • Sjnd为C jnd下的mura 缺陷面积。 可见，每一个Sjnd都有一个固定的Cjnd对应。Sjnd与C jnd是递减关系，面积越大，人眼对对比度低的mura更敏感。 上图三个点可以说明Sjnd与C jnd的关系，箭头所指的点两两灰度一样，但面积不一样，从而引起视觉敏感性不同。 公司产品WP640/690由于具有高度灵敏性，能分辨出Mura的细微的灰度差值。 下图是一些mura通过计算后显示出来的图片： 得益于高精度的色度亮度测试，Westboro Photonics公司的WP640/690能精确测试出mura的位置并对其进行量化，从而实现Mura的自动化测试与分析。 WP640/690系列具有400万/900万像素伯尔贴冷却式高灵敏度CCD，动态范围超过100,000:1,是测试mura的先决条件。 WP640与WP690成像亮度仪自带Photometrica软件，为用户提供了最具生产力的软件环境，无论是简单或者深入的分析。使用选配的脚本或者软件开发工具包（SDK），软件所有的结果与分析功能都可实现高效的自动化。