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苏州高沃电子有限公司

SUZHOU GOVO TEK LIMITED


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FX-400tRX FX-300tRX ILX-1100 ILX-2000 3D-X射线高速断层扫描检测系统

2020-2-25 22:47:23点击:

日本【I-BIT】株式会社是一家业内领先的3D X-RAY检测设备的制造商,为全球的SMT行业,半导体行业提供提高良品,改善质量的切实有效的解决方案。 2000年从松下(PANASONIC)技术公司X光设备事业部拆分出来的独立公司。在全球各地销售X-RAY检测设备超过1000台,I-BIT特有3D-X射线立体方式在AXI技术领域保持领先的专业技术。


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在线3D-X射线断层扫描自动检测系统 ILX-1100/ ILX-2000

以自动在线方式用3D-X射线CT断层扫描高速检测出2D-X光机无法检测出的焊接缺陷:双面贴装基板、BGA虚焊空焊、接插件通孔透锡不良、IGBT焊接空洞、堆叠封装芯片等等。高速X射线CT分层检测对产品可靠性有显著提高,在产品出厂之前发现隐蔽缺陷,致召回成本和不良率降到最低。

X射线立体CT方式」的原理

X射线立体CT方式

运用数字层析X射线摄像技术原理,高速生成PCB两面的焊点成像,其可描绘PCB任意一面焊点或焊盘的不同水平切片高度的成像。

I-BIT作为世界领先的3D-X射线CT检测系统制造商,于2000年自松下X光设备事业部拆分设立,专注于电子及半导体行业提升良品率的解决方案。

关于I-BITX射线立体CT




3D-X射线高速CT分层检测的必要性

PCB组装技术向高密度高可靠性的方面发展,特别是军事/航空/汽车/通讯等行业对PCB组件焊接的可靠性要求极高,质量的可靠性已经成为企业生存和发展的基础,采用传统的2D-X光机难以检测通孔透锡不良、BGA虚焊空焊、双面贴装基板、堆叠芯片焊接等缺陷,隐蔽缺陷只能靠最终产品通电/可靠性筛选来部分发现,尤其焊锡不足导致的临界虚焊缺陷更加隐蔽,往往是交付用户使用不久后,焊点的脱焊才会显现和暴露出来,3D-X射线高速CT分层检测技术可快速检测出缺陷焊点,CT分层测试的有效性突显出其强大功能和不可替代性,用户在使用3D-X射线检测系统(AXI)之后发现产品可靠性有了显著提高,无论在线或离线使用,I-BIT公司的3D-AXI在检查缺陷方面具有很高的精确度和可靠性,获得用户高度的评价。






离线3D-X射线高速断层扫描检测系统 X射线立体CT方式FX-400tRX / FX-300tRX

(可任意切换2D穿透检查方式/3D立体检查切换, 3D断层检查)

设备规格with CT FOS耐用型X射线平板 空间分解能2μmFX-400tRXFX-300tRX